-擴大您對半導體測試應用的想像

-從前端制程溶液奈米級監測到符合AIoT應用的半導體測試

臺灣桃園2018年9月5日電/美通社/--致茂電子在半導體測試領域擁有眾多產品線，從研發至量產階段所需之設備，包括ATE大型測試系統、IC分選機以及PXI/PXIe小型化測試平臺，皆有完整相對應產品提供客戶最適合的選擇，致茂集團更增加半導體前端制程的溶液監測與可符合趨勢應用的AIoT連接測試解決方案。今年于SEMICON Taiwan將會實機展出SuperSizer溶液奈米粒子監測系統，現場可親自體驗鷹眼級的測試設備。

鷹眼級SuperSizer溶液奈米粒子監測系統

半導體制程技術以極快的速度進步到10奈米、7奈米線寬，在不久的將來更將到5奈米甚至于3奈米。影響制程良率甚鉅的奈米粒子監控技術現有技術只能勉強監控大于20奈米的粒子，遠遠不及產線需求。致茂集團旗下的兆晟奈米科技推出制程良率改善利器SuperSizer奈米粒子監測系統，提供客戶對制程液體里小于20奈米的粒子大小及分布，并具有24小時即時監控的能力，能有效防范奈米缺陷形成于未然，大幅改善良率。

專為智慧連網所需的SoC測試系統

隨著智慧連網家庭市場的發展，要讓住家變得更聰明、更方便，關鍵在于人工智慧(AI)資料分析技術、大數據(big data)的統計、語音(Audio)辨識系統、以及提升家庭網路連線的技術與安全性。致茂電子近年積極發展專為智慧家庭生態系統所需的SoC晶片的測試設備，持續推出整合性更高的量測解決方案，以提供最低的測試成本且滿足復雜SoC的測試應用需求。

HDAVO(High Density Audio Video Option)高性能混和訊號解決方案，為針對語音(Audio)辨識系的SoC所提供的高效能、高通道、高平行數的選購模組，擁有可同時輸出的8(16)個差動源模組(AWG)和同時接收的8個差動測量模組(DGT)，且在每一個差動源模組(AWG)上能提供高達400Msps的取樣頻率和在每一個差動測量模組(DGT)上能提供高達250Msps的取樣頻率，具有高規格、低成本和多功能等優勢，甚至能因應未來5G基頻晶片所需的I/Q訊號的產生與開發導入。搭配CRISPro軟體套件，讓使用者可以用圖形化介面(GUI)或程式語言做測試程式的開發和除錯(debug)，讓使用者能更快完成程式的開發與導入量產。

IoT連接測試解決方案

Adivic MP5806 RF ATE測試方案，為致茂集團旗下的匯宏科技產品，針對Chroma半導體測試設備(VLSI/SoC測試系統)，客戶在既有的數位/類比/混合訊號IC應用下，皆可經由選配添購Adivic MP5806，將測試設備擴充為俱備完整的射頻晶片測試方案，可支援包含NB-IoT、GPS/BeiDou、Wi-Fi、Bluetooth與Tuner等各主要物聯網(IoT)通訊標準，其所內含的10MHz~6GHz全頻域覆蓋之超高頻寬VSG/VSA模組，更可泛用于未來各式無線通訊標準。

具備ATE功能的PXIe數位I/O卡

Chroma 33010為具有自動測試系統(ATE)功能的PXIe架構PE card，除傳統ATE測試系統（Chroma 3380D-256通道、Chroma 3380P-512通道、Chroma 3380-1024通道）外，Chroma 33010更符合PXI測試方案發展應用之趨勢及需求，以因應未來更小IC通道及愈趨復雜功能之趨勢，尤其在IoT及汽車電子IC測試上，PXI/PXIe架構在半導體測試無論在應用多變和彈性上都有一定優勢。應用范圍包含微控制器(MCU)、微機電(MEMS)、射頻IC(RF IC)及電源IC(PMIC)等測試方案。

SEMICON Taiwan(9月5-7日)，致茂電子將于臺北南港展覽館一館（攤位號：K2785）展出最新的半導體測試解決方案，我們也將提供客制化半導體/IC測試解決方案以滿足您的特殊需求。我們相信，您將會有全新的體驗與意想不到的收獲。有您的支持，致茂才能更加茁壯，期待在本年度盛會中與您見面。